インピーダンス・Sパラ測定SMD高周波デバイス測定用治具
アルモテック株式会社・アルモテックの試験治具は、お客様の製品（被測定物）に合わせ、専用設計で製作します。開示頂きました仕様・規格にて対応させて頂きます。
・オプションとして、お客様の製品（被測定物）に合わせた専用のCALキットを、設計・製作致しますので、試験治具コンタクト部を含めキャリブレーションできます。結果、デバイスそのもののデータを確認する事が出来ます。
(1)Sパラメータ測定用治具
A.スライドテーブル式
◆特徴
（1）高精度な測定再現性
（2）スライドするので デバイスの装着が簡単
（3）電源供給端子などの取付可
（4）多品種の測定台取付・交換可能
B. トグルクランプ式
◆特徴
（1）高精度な測定再現性
（2）電源供給端子などの取付可
（3）多品種の測定台取付・交換可能
(2)インピーダンス測定用治具
インピーダンス測定用
◆特徴
（1）アジレント社測定器に直付けする 構造
（2）多品種の測定台交換可能
CALキット写真
他にも特殊なデバイス用の治具を製作しております。
| Sパラメータ測定用治具 代表仕様（参考） |
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| 使用周波数 | DC～18GHz |
| デバイスサイズ | 1005 サイズ（2 端子用） 2010 サイズ（10 端子用）など ※表面実装用PKGだけではなく、リードタイプのPKGについても取扱いしております。 |
| インピーダンス | 50Ω |
| 治具ISOLATION | -55dB 以上＠6GHz (コンタクト端子間：2mm の時） |
| S21 再現性 | ±0.05dB＠3GHz以下（3dB 帯域） ±0.1dB＠6GHz以下（3dB 帯域） 注…スルーチップを使用し、10 回程度繰り返し測定した時のデータ |
| 校正 | デバイスとの接触面を基準とした校正、スルーチップのみの簡易校正 |
| 校正方式 | SOLT方式 TRL方式 |